T3Ster半導體熱阻測試儀

半導體功率件的熱阻測試十分必要，只有結(jié)溫得到保證，這些器件才能穩(wěn)定工作，使用壽命才有保證。本實驗室T3Ster測試系統(tǒng)可以滿足結(jié)溫與熱阻結(jié)構(gòu)的測試。

標準支持

1.具有JESD51-1定義的靜態(tài)測試法（Static Mode）與動態(tài)測試法（Dynamic Mode），能夠?qū)崟r采集器件瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線

2.測試方法符合IEC 60747、MIL-STD-883H method 1012.1和MIL-750E 3100系列標準的要求。

主要技術(shù)指標

1.測試通道：8通道；

2.實時測量的時間分辨率：1μs；

3.溫度控制范圍：10oC~90oC；

4.溫度精度：0.2oC；

5.允許器件功率峰值：100W(50V，2A，R-Switch模式)。

NetzschZFA/447材料熱導測試儀

本測試系統(tǒng)是對各類材料的熱性能進行測試，根據(jù)測得的熱性能參數(shù)，便于企業(yè)了解其材料的導熱性能，提高了企業(yè)在產(chǎn)品開發(fā)過程中對材料選型的效率，有助于材料型企業(yè)對自研復(fù)合材料的熱性能進行評估與深入研究。

主要技術(shù)指標

1.溫度范圍：RT ~300℃；

2.熱擴散系數(shù)范圍：0.01 ~1000 mm2/s；

3.導熱系數(shù)范圍：0.1 ~2000 W/m*K；

4.四樣品位的自動進樣器，一次測試可以同時測4個樣品。

島津EDX- 700HS型X射線熒光光譜儀

主要用電子電氣設(shè)備中有毒物質(zhì)篩選分析，可在數(shù)分鐘內(nèi)快速分析材料中鉛、汞、鎘、總鉻、總溴含量。

主要特點

1.不需復(fù)雜的樣品前處理，可對金屬、樹脂、粉體、液體等任何形態(tài)的樣品進行無損直接測定；

2.具有五類產(chǎn)品的鉛、汞、鎘、鉻、溴含量工作曲線；

3.能對部分金屬鍍層進行分析和厚度測試；

4.能對未知金屬材料進行金屬元素分析。

Lambda950紫外/可見/近紅外分光光度計

Lambda950紫外/可見/近紅外分光光度計，主要用于檢測材料反射率、透射率以及吸收特性等與燈具、LED器件相關(guān)的特性參數(shù)。該設(shè)備由美國PERKINELMER公司制造，采用雙光束比率式分光。 

主要技術(shù)指標

1.波長范圍 ：( 175-3300 ) nm；

2.V分辨率：≤0.05nm；

3.NIR分辨率：≤0.20nm。