T3Ster半導(dǎo)體熱阻測(cè)試儀
半導(dǎo)體功率件的熱阻測(cè)試十分必要,只有結(jié)溫得到保證,這些器件才能穩(wěn)定工作,使用壽命才有保證。本實(shí)驗(yàn)室T3Ster測(cè)試系統(tǒng)可以滿足結(jié)溫與熱阻結(jié)構(gòu)的測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)支持
1.具有JESD51-1定義的靜態(tài)測(cè)試法(Static Mode)與動(dòng)態(tài)測(cè)試法(Dynamic Mode),能夠?qū)崟r(shí)采集器件瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線
2.測(cè)試方法符合IEC 60747、MIL-STD-883H method 1012.1和MIL-750E 3100系列標(biāo)準(zhǔn)的要求。
主要技術(shù)指標(biāo)
1.測(cè)試通道:8通道;
2.實(shí)時(shí)測(cè)量的時(shí)間分辨率:1μs;
3.溫度控制范圍:10oC~90oC;
4.溫度精度:0.2oC;
5.允許器件功率峰值:100W(50V,2A,R-Switch模式)。